Основной контент книги Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов

Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов

Объем 43 страницы

2013 год

Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов

авторы

0,0

399 ₽

120 ₽

Покупайте книги и получайте бонусы в Литрес, Читай-городе и Буквоеде.

Участвовать в бонусной программе

Подарите скидку 10%

Посоветуйте эту книгу и получите 12,01 ₽ с покупки её другом.

Подробнее

О книге

В лабораторном практикуме излагаются теоретические основы технологических процессов роста полупроводниковых материалов и методы контроля их электрофизических и структурных параметров. Материал практикума соответствует учебному плану курса «Основы технологии электронной компонентной базы».

Жанры и теги

Материаловедение

Практикумы

Войдите, чтобы оценить книгу и оставить отзыв

Книга Дмитрия Крутогина, Олега Рабиновича «Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов» — читать онлайн на сайте. Оставляйте комментарии и отзывы, голосуйте за понравившиеся.

Возрастное ограничение:

Дата выхода на Литрес:

29 марта 2018

Дата написания:

2013

Объем:

43 стр.

Общий размер:

748 КБ

Общее кол-во страниц:

Правообладатель:

МИСиС