Подарите скидку 10%
Посоветуйте эту книгу и получите 12,01 ₽ с покупки её другом.
Читайте только на Литрес
Книгу нельзя скачать файлом, но можно читать в нашем приложении или онлайн на сайте.
Основной контент книги Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов
Текст PDF
Объем 43 страницы
2013 год
0+
Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов
Читайте только на Литрес
Книгу нельзя скачать файлом, но можно читать в нашем приложении или онлайн на сайте.
120 ₽
Начислим
+4
Покупайте книги и получайте бонусы в Литрес, Читай-городе и Буквоеде.
Участвовать в бонусной программе
О книге
В лабораторном практикуме излагаются теоретические основы технологических процессов роста полупроводниковых материалов и методы контроля их электрофизических и структурных параметров. Материал практикума соответствует учебному плану курса «Основы технологии электронной компонентной базы».
Жанры и теги
Войдите, чтобы оценить книгу и оставить отзыв
Книга Дмитрия Крутогина, Олега Рабиновича «Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов» — читать онлайн на сайте. Оставляйте комментарии и отзывы, голосуйте за понравившиеся.
Возрастное ограничение:
0+Дата выхода на Литрес:
29 марта 2018Дата написания:
2013Объем:
43 стр. Общий размер:
748 КБОбщее кол-во страниц:
43Правообладатель:
МИСиС