Реклама
Отложенные
Корзина
Мои книги
Войти
Анализ структуры материала методами просвечивающей электронной микроскопии. Методические указания к выполнению лабораторной работы
Анализ дефектов кристаллического строения металлов. Методические указания к семинарам
Кристаллографический анализ структуры металлов. Методические указания к семинарам
Материалы микроэлектроники: тонкие пленки для интегрированных устройств
Оставьте отзыв